文档类型
文章
出版日期
1 - 2016
出版来源
纳米收敛
卷号
3
第一页
6
文摘
镍的表面镀层薄膜有限公司和尼克是评估使用电化学双层电容,测量使用[俄文(NH电化学领域3)6]3 +/[俄文(NH3)6]2 +氧化还原电对,地形原子力显微镜(AFM)成像。这三种方法相互比较分别为每个成分和整个组样本无论组成。双层电容测量被发现呈正相关的由AFM地形粗糙度因素。电化学测量区域被发现是少与测量粗糙度因素以及适用的只有两三个成分的研究。结果表明,原位双层电容测量是一种实用、多功能技术评估金属样品的表面积可访问。
建议引用
Gira,马修·J。,Kevin P. Tkacz, and Jennifer R. Hampton. “Physical and Electrochemical Area Determination of Electrodeposited Ni, Co, and NiCo Thin Films.”纳米收敛3,没有。1(2016年1月29日):6。doi: 10.1186 / s40580 - 016 - 0063 - 0。
